一、前言

眾所周知，真空鍍鋁膜的鋁層厚度是和復合包裝制品的質量密切相關的一個重要指標。本人在以前就曾經寫過一篇名為“塑料薄膜真空鍍鋁主要技術指標淺談”的文章，刊登在了《塑料包裝》1999年第9卷第4期上。

根據本人目前對于復合包裝制品所用真空鍍鋁膜鋁層厚度的要求及其檢測方法的了解，談一下對真空鍍鋁膜鋁層厚度及其檢測方法的看法。

二、真空鍍鋁膜鋁層厚度指標和檢測方法

真空鍍鋁膜的鋁層厚度分別可以用鋁層厚度（?）、光密度（OD）和表面電阻（Ω／□）三種不同的單位表示。

鍍鋁層厚度（?）采用臺階儀接觸式表面形貌測量測得，好的臺階儀測量分辨率可以達

到1 ? ，重復性可以達到5 ? 。但是，由于臺階儀價格昂貴，測量起來比較麻煩，而且，在塑料薄膜上的鍍鋁層很難用臺階儀測量。因此不適合一般的鍍鋁膜生產單位和使用單位使用。

鍍鋁層的光密度（OD）采用光密度儀檢測，以光密度（OD）作為測量單位或者以透光率（T %）作為測量單位。光密度（OD）越大，透光率（T %）越小。利用光密度方法檢測鍍鋁層厚度的儀器推薦林上科技的真空鍍膜在線測厚儀。

鍍鋁層越厚時，光密度（OD）越大，透光率（T %）越小。

光密度OD和透光率（T %）之間可以通過下面的關系式互相轉換：

OD=log100/T

鍍鋁層的表面電阻（Ω／□）依據歐姆定律測量。鍍鋁層越厚，表面電阻（Ω／□）越小。市場上常見的四探針測量儀和方阻儀等都是可以用來測量鍍鋁層表面電阻的儀器。

三、各種鋁層厚度單位之間的關系

上面介紹了三種表征真空鍍鋁膜鋁層厚度的單位即厚度（?）、光密度（OD）和表面電阻（Ω／□）。這三者之間能否互相轉換呢，這是大家關心的問題。

根據AIMCAL（美國鍍膜涂布復合工業協會）、EMA（歐洲鍍膜協會）以及國外幾家著名卷繞真空鍍膜設備生產廠家的資料，下面給出真空鍍鋁膜鋁層厚度各種檢測單位之間的參考對應關系。

1. 鋁層厚度（?）和光密度（OD）之間的對應關系

圖1. 鋁層厚度（?）和光密度（OD）之間的對應關系

在圖1中，鋁層厚度（?）和光密度（OD）之間的三條對應關系曲線分別是在各種條件下得到的：其中A是假定鋁層表面沒有鋁的氧化層時，B是假定鋁層表面的氧化層厚度為30 ? ，C是假定鋁層表面的氧化層厚度為111 ? 。

2. 鋁層表面電阻（Ω／□）和光密度（OD）之間的對應關系

圖2. 鋁層表面電阻（Ω／□）和光密度（OD）之間的對應關系

在圖2中，鋁層表面電阻（Ω／□）和光密度（OD）之間的對應關系曲線是在一定的鍍膜速度（2.5-3米/秒）和一定的鋁絲送絲速率（800-1000毫米/分鐘）時得到的，不同的鍍膜速度和鋁絲送絲速率對于鍍鋁層的致密性亦即表面電阻有影響。鋁層表面的氧化程度對表面電阻也有很大影響。

3. 鋁層透光率（T %）和光密度（OD）之間的對應關系

圖3. 鋁層透光率（T %）和光密度（OD）之間的對應關系

在上述三個對應關系圖中，只有圖3鋁層透光率（T %）和光密度（OD）之間可以直接通過關系式互相轉換。

四、結論

上面給出了表征真空鍍鋁膜鋁層厚度的各種單位：鋁層厚度（?）、光密度（OD）和表面電阻（Ω／□）。結合鍍鋁膜生產廠家卷繞真空鍍鋁設備的具體情況，在所有各種卷繞鍍膜設備上安裝的鋁層在線檢測裝置基本上有電阻測量輥（測量鋁層表面電阻）、光密度（OD）檢測裝置（測量鋁層光密度或者透光率）和渦流電流檢測裝置（測量鋁層表面電阻）等幾種。

1.真空鍍鋁膜的鋁層厚度指標盡量不采用鋁層厚度（?）。

很少有單位或者有人能夠用臺階儀去測量鋁層厚度。雖然現在市場上已經出現采用渦流

電流檢測原理用臺階儀校準直接顯示鋁層厚度（?）的儀器，但是目前還沒有被大量選用，想要評價它的準確性也不是容易的事。

2.比較切實可行的真空鍍鋁膜鋁層厚度指標是選用表面電阻（Ω／□）或者光密度（OD）。

在市場上很容易采購到方阻儀、四探針測量儀或者光密度儀，價格也不貴。這樣，供需雙方可以采用相同的檢測儀器得到光密度（OD）和表面電阻（Ω／□），從而得出鍍鋁層厚度，對鍍鋁膜的鋁層厚度指標進行正確評估，避免供需雙方之間由于沒有相同的檢測儀器檢測而產生產品質量糾紛。

值得注意的是，真空鍍鋁膜出廠前必須使用防潮包裝，以避免鍍鋁膜鋁層表面受潮而產生氧化。