磁性測量原理，主要用于測量磁性金屬基體上的非磁性涂層厚度。磁性金屬基體表面的涂層厚度和磁阻和磁通之間有一定的關系。就是利用這個關系計算磁性金屬基體表面的涂層厚度。利用測頭經過非磁性涂層流入磁性金屬基體的磁通量大小來測量涂層厚度。

渦流測量原理，簡單地說是高頻交流信號在探頭線圈中產生電磁場，探頭靠近導體(通常是金屬)時形成渦流。漩渦的大小與探頭和導電基體之間的距離有電磁感應關系，探頭離導電基體越近，渦流越大，反射阻抗也越大。探頭離導電基體越遠，渦流越小，反射阻抗也越小。因此，該值直接顯示探頭與導電基體之間的距離，即涂層的厚度。這種非磁性探頭通常使用高頻材料作為線圈鐵芯，與上面的測量原理和最大的區別是探頭差異、信號頻率差異、信號大小和標度關系不同。