在涂層測厚儀行業(yè)儀器的“測量精度”一直是老生常談的話題，同時也是廣大涂層測厚儀用戶比較關注的問題，那么影響涂層測厚儀的測量精度的因素有哪些？林上科技生產(chǎn)的高精度涂層測厚儀又是如何來解決這些因素的。本文主要描述了影響涂層測厚儀測量精度的因素以及林上新款高精度涂層測厚儀LS225是如何來保證測量精度的。

影響金屬基體的人為可控因素

1.金屬基體的磁性質(zhì)

磁性法測厚會受到測性變化的影響。為了避免加工工藝（熱處理和冷加工工藝的影響）對磁性的影響。我們一般會選擇與試件金屬性質(zhì)相同的標準片進行校準。

2.邊緣效應

一般的表面涂層測厚儀會對金屬試件的表面陡變敏感。因此在測量試件表面的涂層厚度時一般會選擇比較平整的中間部位。而高精度涂層測厚儀會減少邊緣對測量精度的影響。

3.曲率

一般情況下試件的曲率會對測量結(jié)果有一定的影響。而且這種影響會伴隨著曲率半徑的減少會明顯的增大。因此一般的涂層測厚儀在彎曲試件的表面上測量的數(shù)據(jù)是不可靠的。

4.測頭壓力和測頭的取向

側(cè)頭在試件上的壓力的大小會影響測量數(shù)據(jù)，在測量過程當中要保持測頭與試件表面垂直且壓力平衡。而高精度涂層測厚儀會規(guī)避這樣的影響因素。

林上新款高精度涂層測厚儀是如何確保測量數(shù)據(jù)精準?

既然影響涂層測厚儀的精準度的因素有這么多，那么林上的新款高精度涂層測厚儀LS225是如何確保測量數(shù)據(jù)精準的呢？

1.采用先進的數(shù)字探頭

儀器采用先進的數(shù)字探頭技術，使得測量數(shù)據(jù)直接在探頭上完成。這樣會使探頭不易受到干擾確保了測量精度。

2.儀器采用先進的數(shù)字震蕩技術

LS225的探頭采用了數(shù)字震蕩技術，高速ADC采集。確保了儀器測量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。

3.超小測頭

林上LS225涂層測厚儀的測頭比較小，使得以上影響因素當中邊緣效應、和曲率的影響因素比較小。小的測頭適合小型被測材料例如釘子、螺栓等小型工件。

4.多點校準

采用用戶多點校準方式，可避免因為金屬基體性質(zhì)而影響測量精度。儀器會依據(jù)實際工件修正曲線，使得測量數(shù)據(jù)更加精準。

5.專業(yè)夾具可選

為了避免測頭壓力和和測頭取向而造成的測量數(shù)據(jù)不精準的問題，新款LS225高精度涂層測厚儀配有測試夾具(可選)，不但使得測量變得更加方便，還可以因為人為因素帶來的測量誤差。

以上就是林上LS225新款高精度涂層測厚儀為測量精度提供的強有力的保障措施，希望能對您提供幫助。